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        Epsilon 4 X射線熒光光譜儀馬爾文帕納科

        簡要描述:Epsilon 4 X射線熒光光譜儀馬爾文帕納科
        借助 XRF 光譜儀 Epsilon 3 系列的經驗打造而成,Epsilon 4 是一款多功能臺式 XRF 分析儀,廣泛用于從研發到流程控制等各個領域中需要從氟 (F) 到镅 (Am) 元素分析的行業細分市場。 Epsilon 4 將激發和檢測技術與成熟軟件和智能設計相結合,其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光譜儀。

        • 產品型號:
        • 廠商性質:代理商
        • 更新時間:2024-01-17
        • 訪  問  量:1655

        產品分類

        Product Category

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        詳細介紹

        品牌馬爾文帕納科行業專用類型通用
        價格區間面議儀器種類臺式/落地式
        應用領域綜合

        Epsilon 4 X射線熒光光譜儀馬爾文帕納科

        借助 XRF 光譜儀 Epsilon 3 系列的經驗打造而成,Epsilon 4 是一款多功能臺式 XRF 分析儀,廣泛用于從研發到流程控制等各個領域中需要從氟 (F) 到镅 (Am) 元素分析的行業細分市場。 Epsilon 4 將激發和檢測技術與成熟軟件和智能設計相結合,其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光譜儀。

        對于傳統上由 ICP 和 AAS 來實現的復雜應用,這提供了一個簡單易行的替代方案。通過將 XRF 光譜儀放置在生產線旁邊,嘗試進行現場或在線 XRF 監控,您的反饋時間將從幾小時縮短到幾分鐘。

        Epsilon 4 光譜儀具有高靈活性,適用于廣泛的專業應用, 隨時準備為您創造價值。

        Epsilon 4 X射線熒光光譜儀馬爾文帕納科 概述

        Epsilon 4 任意位置

        由于較低的基礎設施要求,可以將 Epsilon 4 放到生產過程中靠近生產線的任意位置。 其高性能使大多數應用能夠在環境條件下運行,從而降低氦氣或真空維護的成本。

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        超越分析的價值

        能量色散式 X-射線熒光光譜儀可分析從碳 (C) 到镅 (Am) 的元素,涵蓋從百萬分之一以下到 100 wt% 的濃度。

        將 Omnian 用于無標分析,當需要快速分析鑒定時,則使用 FingerPrint 來進行材料測試,或者使用 Stratos 來對涂層、表面層和多層結構進行快速、簡單和非破壞性的分析。 還可以使用支持與 FDA 21 CFR 第 11 部分等法規合規的增強的數據安全性,或者使用 Oil-Trace 量化生物燃油混合燃料到新潤滑油和使用過的潤滑油。

        支持各類樣品

        高樣品兼容性

        Epsilon 4 對于不同形態的樣品都游刃有余,典型樣品如粉末、液 體和固體。可以應用于從水泥到纖維等不同類型產品的元素成分分析。如果沒有標準物質可用或樣品種類太多,馬爾文帕納科無標分析解決方案將為您提供快速可靠的分析結果。

        Epsilon 4 是穩健、可靠的傳統系統替代方案,已在許多行業和應用領域中得到廣泛應用,甚至在輕元素分析最為重要的環境中,包括:水泥生產、采礦、選礦、鋼鐵及有色金屬、RoHS 篩選及定量、石油和石化、聚合物及相關行業、玻璃生產、法醫學、制藥、保健產品、環保、食品和化妝品。

        特點

        靈活的配置

        Epsilon 4 是高度靈活的分析工具,可在 10 瓦版本中用于從研發到過程控制等各個領域的元素分析 (F - Am)。 要實現更高的樣品處理量或擴展的輕元素功能,并且處于更加具有挑戰性的環境,可以使用 15 瓦版本,甚至可以對碳、氮和氧進行分析。

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        最新發展

        Epsilon 4 儀器將射線探測技術與分析軟件結合到了一起。 15 瓦 X 射線管與大電流 (3 mA)、硅漂移探測器 SDD30 以及緊湊的光路設計相結合,提供了甚至超過 50 瓦功率 EDXRF 系統以及臺式 WDXRF 系統的分析性能 - 同時還額外提高了能源利用效率。

        迅速、靈敏

        利用可生成更高強度的硅漂移探測器技術實現迅速測量。

        探測器電路提供的線性計數率可超過 1,500,000 cps(在 50% 的死時間下),和計數率無關的分辨率通常高于 135 (eV@300 kcps),可更好地對鄰近譜線進行分離。強有力的探測性能使得 Epsilon 4 能譜儀超越了傳統臺式儀器,實現了更快的測試響應和更低的檢出限。 這使得 Epsilon 4 光譜儀能夠以全功率運行,因此與傳統的 EDXRF 臺式儀器相比,實現了更高的樣品通量。

        降低氦氣消耗量

        Epsilon 4 的高性能使得許多應用可以在空氣環境中運行,從而減少了氦氣和真空的使用成本和切換時間。 在空氣中測量時,鈉、鎂和鋁的低能量 X 射線光子對氣壓和溫度變化很敏感。 內置溫度和氣壓傳感器可補償這些大氣變化,確保在各種氣候條件下檢測的結果不受影響。

        技術指標

        樣品處理X 射線管檢測器軟件
        具備 10 個位置的可移動樣品交換器穩定性高的金屬陶瓷側窗高分辨率硅漂移探測器 (SDD),通常為 135 eV @ Mn-Kα通過 Omnian 無標分析解決方案,進行元素篩選
        光譜儀最多可容納直徑 52 毫米(2 英寸)的樣品50 微米薄鈹窗,對輕元素高度敏感(Na、Mg、Al、Si)最大計數率 1,500,000 c/s(在 50% 的死時間下)通過 FingerPrint 解決方案,進行合格/不合格分析
        包含自旋器,以提高空氣濾清器分析的準確性Ag 陽極 X 射線光管,獲得 P、S 和 Cl 分析的最佳性能薄入探測器射窗,高靈敏度在監管環境下,增強數據安全性
        大樣品模式最大可分析高 10 cm 的較大樣品

        用于多層樣品的 Stratos



        使用 Oil-Trace,在新潤滑油和使用過的潤滑油中對磨損金屬進行靈活校準











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