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日本三豐Mitutoyo物鏡白光干涉光學(xué)單元 WLI-Unit利用白光干涉的非接觸式高精度精細(xì)表面紋理測(cè)量→3D形狀測(cè)量、3D粗糙度測(cè)量高度測(cè)量精度與光學(xué)放大倍數(shù)無關(guān)即使使用低倍率鏡頭也可進(jìn)行高 Z ...

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